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一、高低溫試驗箱廠家簡介:
可程式高低溫試驗機廣泛適用于電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在高低溫環(huán)境下儲存、運輸和使用時的適應(yīng)性試驗，以及溫度漸變試驗。還可以對電子元器件進行應(yīng)力篩選試驗。
二、高低溫試驗箱廠家技術(shù)參數(shù)
型號 | BS-80D | BS-150D | BS-225D | BS-408D | BS-608D | BS-800D | BS-010D |
內(nèi)箱尺寸W*H*D(mm) | 400*500*500 | 500*600*500 | 500*750*600 | 600*850*800 | 800*950*800 | 1000*1000*800 | 1000*1000*1000 |
外箱尺寸W*H*D(mm) | 600*1650*1100 | 700*1700*1200 | 700*1850*1300 | 800*1950*1500 | 1000*2050*1500 | 1200*2100*1500 | 1000*1000*1000 |
溫度范圍 | -70-+100℃（150℃） （A10℃ B0℃ C-20℃ D-40℃ E-50℃ F-60℃ G-70℃） | ||||||
溫度解析度/均勻度 | 0.01℃ ±1℃ | ||||||
溫度控制精度/波動度 | ±1℃ ±0.5℃ | ||||||
升溫/降溫時間 | 約3℃/min 約1℃/min （其他條件可定制） | ||||||
電源 | AC220V+±10%V 50HZ/60HZ AC380V+±10%V 50HZ/60HZ | ||||||
三、高低溫試驗機執(zhí)行的標準
1. GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗A：低溫
2. GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
3. GJB150.3A－2009 高溫試驗方法
4. GJB150.4A－2009 低溫試驗方法
5. GB2423.22-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Nb：規(guī)定溫度變化速率的溫度變化
6. GBT 2424.5-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度試驗箱性能確認
7.GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件
四、高低溫試驗機程序容量控制功能：
可使用的程序量:最大120組,1個程序可由1~99段次組合而成
可使用的記憶容量: 1200段 ，可重復(fù)執(zhí)行命令:每一個命令可達999次，程序斜率設(shè)定可由時間軸來設(shè)定，程序間可設(shè)定聯(lián)結(jié)使用，程序之制作采對談式操作簡單
具有編輯,清除,插入等功能，4組時間信號輸出控制(可控制待測物ON/OFF動作)
具有9組PID參數(shù)設(shè)定，程序執(zhí)行中具有跳段,保持功能，可顯示曲線,資料獲取；日期、時間調(diào)整功能；按鍵及畫面鎖定(LOCK)功能，可連接計算機使用，8點DI異常輸入及10點DO信號控制
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登陸 網(wǎng)站地圖
