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一、冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)簡(jiǎn)介：
冷熱沖擊試驗(yàn)箱根據(jù)待測(cè)試樣品的特殊性，分為兩箱式動(dòng)態(tài)沖擊和三箱式靜態(tài)沖擊，本產(chǎn)品可做冷熱沖擊，也可以做單獨(dú)高溫或低溫使用。廣泛應(yīng)用于航空航天、電子電工、儀器儀表、汽車(chē)、通訊、集成電路、半導(dǎo)體等領(lǐng)域，可發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品潛在缺陷，做應(yīng)力篩選試驗(yàn)，提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品質(zhì)量控制。
二、冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)技術(shù)參數(shù)：
型號(hào) | BS-40H | BS-80H | BS-150H | BS-200H | BS-252H |
內(nèi)箱尺寸W*H*D(mm) | 400*350*300 | 500*400*400 | 600*500*500 | 600*600*550 | 700*600*600 |
外箱尺寸W*H*D(mm) | 1100*1930*1450 | 1200*2000*1550 | 1300*1230*1670 | 1300*2500*1700 | 1400*2630*1750 |
重量(KG) | 500 | 700 | 900 | 1100 | 1300 |
溫度范圍 |
（A-45℃ B-55℃ C-65℃ 高溫區(qū)：+60℃-150℃ 低溫區(qū)：-10℃--65℃ ） | ||||
升溫時(shí)間（蓄熱區(qū)） | RT-200℃約35min | ||||
降溫時(shí)間（蓄冷區(qū)） | RT—70℃約55min | ||||
溫度回復(fù)/切換時(shí)間 | ≤5min / ≤10sec以?xún)?nèi) | ||||
溫度精度/分布精度 | ±0.5℃ ±2.5% ℃ | ||||
冷卻方式 | 風(fēng)、水冷式/雙斷壓縮機(jī) | ||||
電源 | AC380V+±10%V 50HZ/60HZ | ||||
三、兩箱冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)特點(diǎn)：
提籃式分為高溫區(qū)、低溫區(qū)兩部分，測(cè)試產(chǎn)品至于提籃中，沖擊時(shí)提籃將測(cè)試產(chǎn)品移進(jìn)高溫區(qū)或低溫區(qū)進(jìn)行沖擊，測(cè)試產(chǎn)品為動(dòng)態(tài)式。
四、兩箱冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)執(zhí)行滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)：
1. GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗(yàn)
2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗(yàn)
3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)
第2部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
3. GJB360B-2009溫度沖擊試驗(yàn)
4. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
5.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
6.GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
7.GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
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